在安徽工业大学第四届科普宣传活动周期间，为提高我校学生动手能力、培养科学素养、激发创新意识，进一步提升学生的综合素质和能力，充分发挥第二课堂在我校人才培养中的作用，现代分析测试中心开启了第二届“实践工坊”，主要面向全校理工科研究生开放学习先进分析测试技术的实践平台。 2025年5月29日下午，第一场活动在佳山校区主楼5楼会议室进行，分析测试中心工作人员与招募的首批20名学员参加。

   首先，工程研究院副院长、分析测试中心主任蔡征宇通过PPT向学员们介绍了分析测试中心的概况，介绍了中心现有的主要仪器设备及其应用，主要包括形貌分析、结构分析、元素分析、色谱分析、光谱分析、热力学分析等方面。学员们认真学习，积极参与互动。

   为了更好的实践体验，本次“实践工坊”活动重点开展扫描电镜机组相关培训。由场发射电镜机组负责人张洪亮老师做了扫描电镜的理论讲解。然后到材料楼由马坪和张洪亮老师分别教学生透射电镜和扫描电镜的制样和进样操作。  

   扫描电子显微镜(SEM)是继透射电子显微镜之后发展起来的一种电镜，它与透射电镜的成像方法不同。 扫描电镜实际上就是类似于电视摄影显像的方式，利用聚焦的电子束在样品表面上采用扫描的方式扫描，将电子与样品相互作用产生的信号作为调制信号同步扫描显示在显像管上。扫描电镜（SEM）与透射电镜（TEM）在用途上的核心区别在于：‌‌扫描电镜主要用于观察样品表面形貌和成分分析，而透射电镜则用于研究内部结构及晶体特性‌。两者的区别在应用方向‌：‌SEM‌用于表面微观形貌观察（如材料断口、晶粒分布、污染物检测等），提供三维立体图像；表面成分分析（通过收集特征X射线信号进行元素鉴定）。广泛应用于冶金、材料科学、化工、能源与环境、半导体检测、地质研究等领域。‌TEM‌用于内部微观结构分析（如晶体缺陷、相变、纳米颗粒尺寸及结构）；晶体学分析（通过电子衍射获得晶格排列和晶体取向信息）。适用于纳米材料、生物大分子（如蛋白质结构）、矿物研究等领域。‌ SEM样品要求‌‌‌：对样品厚度无严格要求，需表面导电（非导电样品需喷涂金属层），可直接观察大块样品。‌TEM‌：样品需制备成超薄切片（通常<100 nm），制备过程复杂，以避免结构伪影。‌ ‌‌SEM‌图像信息特点：提供表面三维形貌图像，景深大，适合宏观到微观的立体观察。‌TEM‌图像信息特点：生成二维投影图像，需通过多次成像或断层扫描重构三维结构，但对原子级分辨更敏感。选择实验手段需根据研究目标：‌表面形貌与成分分析优先使用SEM，内部结构与晶体学分析则需TEM‌。

   通过培训、实际操作，学员们学习的积极性和主动性得到了充分的调动。“实践工坊” 活动取得了良好的结果，为研究生今后的学习、研究工作提供了便利条件。（撰稿：孙魄  审核：张洪亮、蔡征宇）